晶型专利中X-衍射数据的表述

X-衍射图中，有很多的峰，到底哪些峰应该写在权利要求中呢？如果写得多了，是不是缩小了权利要求保护范围？但是，如果写得不够，是不是会有不支持的问题？
   请高手指点一下。到底权利要求中的X-衍射峰应该怎样撰写才合理？是否有什么衡量标准？

没人知道嘛？

有句话叫做透过现象看本质，峰啊、衍射数据啊，都是表象，本质都是物质的结构发生了变化，将这种物质的结构做些概括写进权利要求。

去找审查内部规程看看，里面有较为详细的规定，目前的实践中对于晶型类的发明卡的较死，甚至只允许用附图来表述，大为不当。在撰写时当然不必如此，可以先找几个特征峰，然后一步步优选，最后把所有的特征峰都列表。